1. 光路：20°、60°、85°（高、中、低光泽）
2. 测量面积：9X15mm
3. 连续模式：实测值、平均值、最小值、最大值
4. 差值模式：50个附有允差的标准记忆
5. 统计模式：每个样品测量点的个数从2-99可选择
6. 三行显示可选择：实测值、平均值、最小值、最大值、差幅值、标准偏差、差值、合格/不合格
7. 记忆：带有日期和时间的999个读数具有记忆唤出功能
8. 接口：串口RS232
9. 软件：easy-link
10. 具有校标标准板的自动检查功能
11. 测量时间：0.5秒/角度
12. 执行标准：
ASTM D523/D2457
DIN 67530
ISO 2813 7668
JIS Z8741
技术参数：
型号 | 名称 | 光路 | 应用范围 | 测量孔径 | 测量范围 | 重复性 | 重现性 |
AG-4440 | 微型光泽计20° | 20° | 高光泽 | 参阅单光路 | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4442 | 微型光泽计60° | 60° | 中光泽 | 12x30mm | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4445 | 微型光泽计85° | 85° | 低光泽 | 参阅单光路 | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4446 | 微型多角度光泽计20/60/85° | 20/60/85° | 各种光泽 | 12x60mm | | 0.5GU | 1GU |
AG-4454 | 微型光泽计45° | 45° | 薄膜/陶瓷 | | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4456 | 微型光泽计75° | 75° | 纸张/塑料 | 参阅单光路 | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4435 | 微型三角度光泽仪（带膜厚测量） | 20/60/80° | 磁性及非磁性，测量范围：0－500微米 | 参阅单光路 | 20°：0-2000GU 60°：0-1000GU 80°：0-160GU | 1% | 2% |
基本配置如下：
微型光泽仪，内含校准标准板的底座
校准证书，接口线，软件gloss-link或easy-link
操作手册，塑料携带箱，电池
尺寸（高×长×宽）：73x155x48 mm 重量：400g
14. 产地：德国